Metoda 005 – Stal szybkotnąca

Nr metody: 005 Materiał: Stal szybkotnąca CIĘCIE: Przecinarka automatyczna SERVOCUT 302-AA, ściernica TRENO-M INKLUDOWANIE: Automatyczna prasa do inkludowania ECORPESS 102, żywica EPO-WEM SZLIFOWANIE I POLEROWANIE: Szlifierko-polerka FORCIPOL 102 z głowicą FORCIMAT 102, uchwyt próbek 6 x 40mm KROKIPREPARATYKI Powierzchnia Ścierniwo Lubrikant Siładociskuna próbkę [N] Czas[min.] Prędkość obrot.[obr./min.]Kierunek obrotów Prędkość obrot. głowicy[obr./min.]Kierunek obrotów Szlifowanie wstępne MAGNETO […]

Metoda 004 – Stal po nawęglaniu

Nr metody: 004 Materiał: Stal 20MnCr5 po nawęglaniu CIĘCIE: Przecinarka automatyczna SERVOCUT 302-AA, ściernica TRENO-M INKLUDOWANIE: Automatyczna prasa do inkludowania ECORPESS 102, żywica EPO-WEM SZLIFOWANIE I POLEROWANIE: Szlifierko-polerka FORCIPOL 202 z głowicą FORCIMAT 102, uchwyt próbek 6 x 40mm KROKIPREPARATYKI Powierzchnia Ścierniwo Lubrikant Siładociskuna próbkę [N] Czas[min.] Prędkość obrot.[obr./min.]Kierunek obrotów Prędkość obrot. głowicy[obr./min.]Kierunek obrotów Szlifowanie […]

Metoda 003 – Żeliwo szare z grafitem płytkowym

Nr metody: 003 Materiał: Żeliwo szare z grafitem płytkowym CIĘCIE: Przecinarka automatyczna SERVOCUT 302-AA, ściernica TRENO-M INKLUDOWANIE: Automatyczna prasa do inkludowania ECORPESS 102, żywica EPO-WEM SZLIFOWANIE I POLEROWANIE: Szlifierko-polerka FORCIPOL 102 z głowicą FORCIMAT 102, uchwyt próbek 6 x 40mm KROKIPREPARATYKI Powierzchnia Ścierniwo Lubrikant Siładociskuna próbkę [N] Czas[min.] Prędkość obrot.[obr./min.]Kierunek obrotów Prędkość obrot. głowicy[obr./min.]Kierunek obrotów […]

Różne wyniki analiz tej samej próbki na różnych spektrometrach XRF.

Często zdarza się, że otrzymujemy różne wyniki analiz tej samej próbki na różnych modelach spektrometrów XRF mimo wybrania tego samego typu kalibracji oraz tych samych parametrów analiz (czas). Z taką sytuacją mamy do czynienia z kilku powodów. Spektrometry XRF są wyposażone w różnego rodzaju lampy XRF (40 kV, 50 kV, anoda srebrna, złota, tantalowa, rodowa) […]

Czym wyróżniają się nowoczesne spektrometry XRF?

Spektrometry nowej generacji cechują się specyficzną konfiguracją zapewniającą najprecyzyjniejsze analizy pod kątem zastosowania. W przypadku analizy składu chemicznego stopów metali spektrometry nowej generacji są wyposażone w lampy XRF o napięciu 50 kV z anodą rodową oraz wielkopowierzchniowy detektor SDD. Tak dobrany układ podzespołów z odpowiednio dobranym układem geometrycznym pozwala na wykorzystanie krótkich czasów analiz i […]

Jakie pierwiastki można analizować spektrometrem XRF?

Metoda XRF pozwala na analizę szeregu różnych pierwiastków, poczynając od magnezu (Mg) a na plutonie (Pu) kończąc. Z uwagi na ograniczenia fizyczne samej metody, pierwiastki lżejsze od magnezu nie są wykrywane metodą rentgenowską z uwagi na zbyt małą liczbę elektronów w powłokach walencyjnych tych atomów, co uniemożliwia ich wybijanie wiązką promieni X. W zależności od […]

Jaki papier ścierny użyć do szlifowania próbek do analizy XRF?

W odróżnieniu od przygotowania próbek do analizy emisyjnej, próbki do analizy XRF nie muszą być szlifowane w celu wykonania analizy, jeżeli ich powierzchnia nie jest utleniona lub pokryta warstwą wierzchnią. W przypadku utlenienia należy użyć papieru ściernego, który nie wprowadzi dodatkowych pierwiastków mogących wpłynąć na ocenę przydatności stopu. Np. do stopów aluminium lepiej użyć papier […]

Jak ustalić czas analizy próbki?

Czas trwania analizy jest zależny od poziomu dokładności wymaganej analizy. Im dokładniejszej analizy oczekujemy tym musi ona być dłuższa. W przypadku stopów metali czas analizy wynosi do 5 sekund w przypadku stopów metali ciężkich, 10 sekund w przypadku stopów metali lekkich (Al, Mg, Si, P oraz siarki), 30 sekund w przypadku stopów metali szlachetnych (Au, […]

Czy próbki do analiz XRF wymagają odpowiedniego przygotowania?

Analiza XRF składu chemicznego jest analizą powierzchniową. Głębokość penetracji próbki zależy od gęstości próbki. Im większa gęstość próbki tym mniejsza grubość warstwy penetrowanej przez promieniowanie rentgenowskie. W przypadku analizy stopów metali grubość warstwy analizowanej wynosi od kilkudziesięciu (np. stopy złota, ołowiu) do kilkuset mikrometrów (stopy aluminium). W większości stopy metali ulegają utlenianiu co powoduje zmianę […]

Czy spektrometr XRF wymaga zgłoszenia do Państwowej Agencji Atomistyki?

Według obowiązującego w Polsce prawa atomowego, każde urządzenie posiadające otwarte źródło promieniowania jonizującego pracujące z napięciami powyżej 30 kV musi być zgłoszone do Państwowej Agencji Atomistyki (PAA). W przypadku podręcznych spektrometrów XRF stosuje się lampy pracujące z napięciem od 40 do 50 kV. Każdy dostępny na rynku podręczny spektrometr XRF wymaga zgłoszenia do Państwowej Agencji […]