Czy próbki do analiz XRF wymagają odpowiedniego przygotowania?

Analiza XRF składu chemicznego jest analizą powierzchniową. Głębokość penetracji próbki zależy od gęstości próbki. Im większa gęstość próbki tym mniejsza grubość warstwy penetrowanej przez promieniowanie rentgenowskie. W przypadku analizy stopów metali grubość warstwy analizowanej wynosi od kilkudziesięciu (np. stopy złota, ołowiu) do kilkuset mikrometrów (stopy aluminium). W większości stopy metali ulegają utlenianiu co powoduje zmianę ich składu chemicznego w warstwie wierzchniej. Jeżeli chcemy uniknąć błędu analizy wynikającego z utlenianiu stopów metali powinien on być przeszlifowany powierzchniowo aż do czystej od śladów utlenienia powierzchni. Tak samo sytuacja wygląda w przypadku nanoszonych warstw wierzchnich np. malarskich, lakierniczych, dyfuzyjnych etc., wszystkie powinny być usunięta przed wykonaniem analizy. W przypadku analiz pod kątem zawartości siarki próbki należy odtłuścić. W przypadku recyklingu typowych stopów metali nie praktykuje się przygotowania powierzchni ze względu na ilość wykonywanych pomiarów.

Nieco inaczej sytuacja wygląda w przypadku próbek np. środowiskowych lub katalizatorów samochodowych. Próbki tego rodzaju charakteryzują się niejednorodnością co prowadzi do uzyskania różnych wyników w różnych punktach próbek. Aby zbliżyć się do wyników rzeczywistych tego typy próbki należy ujednorodnić (np. zmielić) w innym wypadku tego typu analizy mogą mieć jedynie charakter przesiewowy.