Profesjonalne rozwiązania dla laboratoriów materiałowych i kontroli jakości.

SciAps X-50 – Spektrometr rentgenowski XRF

Zmodernizowany "klasyczny" analizator XRF z ekonomicznym detektorem SDD 7 mm². Oferuje najlepszą w swojej klasie wydajność analityczną i szybkość dla swojej platformy detektorowej – pracuje 2× szybciej niż konkurencyjne urządzenia. Idealny wybór dla użytkowników niepotrzebujących pomiaru Mg, Al, Si, S ani P.

Podręczny spektrometr rentgenowski XRF SciAps X-50 do analizy pierwiastkowej materiałów.

SciAps X-50 to analizator XRF o najwyższej wydajności w segmencie urządzeń z ekonomicznym detektorem SDD. Został całkowicie przeprojektowany: nowa płytka drukowana, nowa obudowa i elementy metalowe, uaktualniony interfejs i oprogramowanie oraz pełna rekalibracja.

Urządzenie łączy zminiaturyzowaną, zaawansowaną lampę rentgenowską SciAps z wysoce zoptymalizowaną geometrią wewnętrzną, co przekłada się na szybkie i precyzyjne wyniki. Lampa 40 kV z anodą Rh (dla stopów) lub 50 kV z anodą Au (dla górnictwa, gleb itp.).

X-50 wyposażony jest w wbudowaną kamerę wysokiej rozdzielczości do podglądu próbki oraz kamerę macro do fotodokumentacji i odczytu kodów kreskowych 2D/3D. Możliwość wymiany baterii na gorąco (hot-swap) z zachowaniem do 60 sekund czasu zamiany.

Kluczowe cechy

  • Najwyższa wydajność analityczna w segmencie ekonomicznych detektorów SDD

    2× szybszy od konkurencji

  • Atrakcyjna cena przy zachowaniu zaawansowanej platformy analitycznej SciAps

  • Zminiaturyzowana lampa rentgenowska z optymalną geometrią wewnętrzną

  • Hot-swap baterii

    wymiana bez wyłączania urządzenia (do 60 s)

  • Wbudowana kamera do podglądu próbki i kamera macro do fotodokumentacji

  • System Android z Wi-Fi, Bluetooth, USB i opcjonalnym zarządzaniem w chmurze SciAps Cloud

Specyfikacja techniczna

Masa1,41 kg (3,1 lbs) z baterią
Wymiary238 × 283 × 84 mm (9,38 × 11,15 × 3,34 cala)
Źródło wzbudzenia4W, 40 kV anoda Rh (stopy) lub 50 kV anoda Au (inne aplikacje)
DetektorSDD 7 mm² (pow. aktywna), rozdzielczość 170 eV FWHM @ 5,95 keV
Filtracja wiązkiPojedynczy filtr wiązki pierwotnej (stopy, górnictwo, PM); wielokrotna (gleby, RoHS, katalizatory)
Procesor impulsów12-bit, 80 MSPS, 8K kanałów MCA, USB 2.0, FPGA, 20 nS – 24 µS
Elektronika1,2 GHz quad ARM Cortex-A53 64/32-bit; 2 GB LPDDR3; 16 GB eMMC
Wyświetlacz3,5" kolorowy ekran dotykowy pojemnościowy
KalibracjaParametry fundamentalne (FP)
Weryfikacja kalibracjiZewnętrzny wzorzec ze stali 316
ZasilanieAkumulator Li-ion, hot-swap (60 s), ładowarka zewnętrzna, AC
ŁącznośćWi-Fi, Bluetooth, USB; Profile Builder PC
Temperatura pracy-12°C do 54°C przy 25% cyklu pracy
CertyfikatyCE, RoHS, USFDA registered, Canada RED Act

Akcesoria opcjonalne

  • Walizka transportowa typu rugged

  • Stojak laboratoryjny (test stand) do pracy stacjonarnej

  • Drukarka etykiet Bluetooth z time/date stamp

  • Adapter do pomiaru próbek sypkich (cup adapter)

  • Standardy referencyjne stali nierdzewnych i stopów Ni

  • Zapasowa bateria Li-Ion

Zastosowania spektrometru XRF SciAps X-50

Sortowanie złomu

Recykling i sortowanie złomu metalowego – stale nierdzewne, stopy wysokotemperaturowe, miedź.

Metale szlachetne

Precyzyjna analiza Au, Ag, Pt, Pd, Rh, Ir.

Geochemia i górnictwo

Pakiety pierwiastków: eksploracja, pathfinder, environmental

Analiza gleb środowiskowych

Metale ciężkie, RCRA.

Laboratoria akademickie i badawcze

Badania naukowe oraz badawczo-rozwojowe.

FAQ - Najczęściej zadawane pytania

X-50 może być wykorzystywany między innymi do sortowania i identyfikacji stali nierdzewnych, stali niskostopowych, stopów niklu, kobaltu i tytanu, a także mosiądzów, brązów i innych stopów metali ciężkich. Producent oferuje również konfiguracje przeznaczone do zastosowań geochemicznych, analizy gleb, górnictwa oraz metali szlachetnych.

X-50 jest przeznaczony przede wszystkim do analizy metali przejściowych i ciężkich. W standardowych zastosowaniach stopowych nie jest urządzeniem przeznaczonym do oznaczania lekkich pierwiastków takich jak magnez (Mg), aluminium (Al), krzem (Si), fosfor (P) i siarka (S). Jeżeli analiza tych pierwiastków jest istotna, należy rozważyć wyższy model analizatora XRF, np. SciAps X-200, X-505 lub X-550.

Nie. Technologia XRF umożliwia przeprowadzenie analizy bez konieczności niszczenia próbki. W wielu zastosowaniach pomiar może być wykonany bezpośrednio na gotowym elemencie, rurze, konstrukcji, części maszynowej, złomie lub materiale geologicznym. Dzięki temu X-50 dobrze sprawdza się w kontroli materiałowej prowadzonej bezpośrednio w terenie.

Czas analizy zależy od rodzaju materiału, wymaganej dokładności oraz wykrywanych pierwiastków. X-50 został zaprojektowany jako ekonomiczny analizator do szybkiej identyfikacji podstawowych stopów i metali ciężkich. W zastosowaniach wymagających bardzo niskich granic wykrywalności lub wysokiej precyzji pomiar może wymagać dłuższego czasu niż w wyższych modelach SciAps wyposażonych w większe detektory.

Tak. X-50 może być stosowany do podstawowej identyfikacji i sortowania stali nierdzewnych, stali chromowo-molibdenowych, stali niskostopowych oraz wielu stopów wysokotemperaturowych. Należy jednak pamiętać, że XRF nie służy do oznaczania węgla, dlatego w przypadku gatunków stali rozróżnianych przede wszystkim na podstawie zawartości C konieczne może być zastosowanie innej technologii analitycznej, np. LIBS.

Tak. Dla X-50 dostępne są aplikacje przeznaczone do analizy metali szlachetnych. Producent przewiduje możliwość analizy m.in. złota, srebra, platyny i palladu, a konfiguracja urządzenia może być dostosowana do określonego zastosowania.

X-50 waży około około 1,4 kg wraz z baterią. Jest urządzeniem ręcznym przeznaczonym do pracy zarówno w zakładzie, jak i bezpośrednio w terenie. Wbudowany akumulator litowo-jonowy może być ładowany w urządzeniu lub za pomocą zewnętrznej ładowarki, a konstrukcja umożliwia również szybką wymianę baterii.

Analizator posiada pamięć wewnętrzną oraz obsługuje komunikację przez Wi-Fi, Bluetooth i USB. Może współpracować między innymi z oprogramowaniem SciAps Profile Builder. X-50 wyposażono także w kamerę do obserwacji analizowanej próbki oraz dodatkową kamerę umożliwiającą dokumentowanie pomiarów i odczytywanie kodów kreskowych 2D/3D.

X-50 jest szczególnie dobrym rozwiązaniem dla użytkowników, którzy potrzebują ekonomicznego, przenośnego analizatora XRF do identyfikacji typowych stopów oraz analizy metali przejściowych i ciężkich, a jednocześnie nie wymagają pomiaru lekkich pierwiastków takich jak Mg, Al, Si, P czy S. Może być stosowany m.in. w zakładach produkcyjnych, firmach zajmujących się kontrolą PMI, skupach i sortowniach złomu, branży geologicznej, górniczej oraz przy analizie metali szlachetnych.

Interesuje Cię podręczny spektrometr XRF?

METALOGIS jest autoryzowanym partnerem SciAps w Polsce. Pomożemy dobrać konkretną konfigurację spektrometru pod kątem Twoich zastosowań. Dostarczymy urządzenie, przeszkolimy operatorów i zapewnimy długoterminowy serwis. Skontaktuj się z nami, aby omówić Twój profil analiz i wybrać optymalne rozwiązanie.

Zobacz również